美国进口BOWMAN（博曼）X-RAY膜厚仪

美国进口BOWMAN（博曼）X-RAY膜厚仪检测金属镀层膜厚厚度的仪器，保证镀层厚度品质，减少电镀成本浪费.　典型的應用範圍如下：
單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等
美国BOWMAN（博曼）X-RAY膜厚仪XDVM-μ可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构。具有强大功能的X-射线XDVM-μ带WinFTM? V6 软件可以分析包含在金属镀层或合金镀层中多达24种独立元素的多镀层的厚度和成分。
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