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电镀层测厚仪(博曼)半导体X射线膜厚测试仪图1

电镀层测厚仪(博曼)半导体X射线膜厚测试仪

2013-10-06 09:361290已售
价格 1.00
发货 广东深圳市付款后3天内  
品牌 博曼
库存 90起订1台  
产品详情


美国BOWMAN(博曼)半导体X射线膜厚测试仪它特别为快速无损地分析珠宝首饰、贵金属而设计。这些首饰和贵金属包括黄白金,铂和银,铑,硬币以及所有的首饰合金和镀层,博曼膜厚仪膜厚仪测量准确,使用安全简便,坚固耐用节省维护费用。而且,它符合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器,配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟,所有从13号元素到92号元素的所有元素都能准确测定。美国BOWMAN(博曼)半导体X射线膜厚测试仪可以测量测量未知样品还是测定未知材料.可测量.单层.双层,合金层等多种镀层.深圳金霖以最优的服务.为您提供最佳的解决方案.
 联系人:陈小姐13602569417   固定电话:0755-29371652  qq:2055499418  地址:深圳沙井北环大道110号新桥综合大楼502
 

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深圳市金东霖有限公司

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