主打品牌美国BOWMAN（博曼）线路板X-RAY膜厚测试仪，是一款可靠的采用X-射线荧光方法和独特的微聚焦X-射线光学方法来测
量和分析微观结构镀层的测量系统。它的出现解决了分析和测量日趋小型化的电子部件，包括线路板，芯片和连接器等带来的挑战。
这种创新技术的，目前正在申请专利的X-射线光学可以使得在很小的测量面积上产生很大的辐射强度，这就可以在小到几reg;微米的
结构上进行测量。美国BOWMAN（博曼）线路板X-RAY膜厚测试仪应用于.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.让客户满意是我们金
东霖科技始终的目标. 联系人：陈小姐13691950203
