半导体美国BOWMAN X射线镀层测厚仪，是采用能量散射X-射线萤光测量原理，符合国际标准来进行非破坏及不接触的测量。
除了可以测量镀层厚度外，还可以计算合金中各种元素的含量,至于需要测量电镀槽内的金离子停含量的浓度也是十分简单,采用最新
数学FP法，采用激光自动对焦，并配备有Z轴防冲撞传感器，可防止在对焦时造成一起的损坏。X-RAY膜厚仪等等） 用途：检测金属镀
层膜厚厚度的仪器，保证镀层厚度品质，减少电镀成本浪费 产品副名称：应用范围较广的标准型镀层厚度测量仪 分析:详述?元素范
围铝13到铀92。x射线激发能量50 W(50 kv和1 ma)钨靶射线管，探测器硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率?测量的分析层和
元素5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素半导体美国BOWMAN X射线镀层测厚仪应用于.五金,电镀,端
子.连接器.金属等多个领域.让客户满意是我们金东霖科技始终的目标.
