Bowman博曼半导体膜厚测试仪是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备，和同等配置膜厚仪相比有，选择它绝对是正确的，可测试元素范围铝13到铀92。x射线激发能量50 W(50 kv和1 ma)钨靶射线管?探测器硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率?测量的分析层和元素5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素?过滤器/准直器4个初级滤波器4个电动准直器（0.1 0.2 0.3 1.5mm）?聚焦多固定聚焦与激光系统?数字脉冲处理4096 多通道数字分析器与自动信号处理，包括X射线时间修正和防X射线积累，Bowman博曼半导体膜厚测试仪可应用于.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.有需要的朋友请于我司联系，深圳金东霖以最优的服务．为您提供最佳的解决方案.
