推荐美国BOWMAN X射线荧光膜厚测试仪

推荐美国BOWMAN X射线荧光膜厚测试仪，应用罩性金属镀层厚度测量， 例如Zn；Cr； Cu； Ag； Au；Sn等 合金(两样金属元素)镀层厚度测量， 例如： SnPb； ZnNi； 及NiP(无电浸镍)在Fe上等 合金(三檬金属元素)镀层厚度测量， 例如： AuCuCd在Ni上等 双镀层厚度测量， 例如：Au／Ni在Cu 上； Cr／Ni在Cu上；Au／Aq在Ni上；Sn／Cu在黄铜上等 双镀层厚度测量(其中一层是合金层)， 例如： SnPb／Ni或Au／PdNi在青铜上等 三镀层， 例如： Cr／Ni／Cu在塑胶或在铁上 金属成份分析， 最多可以分析四种金属元素 。美国BOWMAN X射线荧光膜厚测试仪聚焦多固定聚焦与激光系统，4096 多通道数字分析器与自动信号处理，包括X射线时间修正和防X射线积累，配英特尔酷睿i5 3470处理器(3.2 ghz),8 gb DDR3内存,微软Windows 7，让客户满意是我们金东霖科技始终的目标，有需要的朋友可来电咨询。