硅片测厚仪(HS-WTT)

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适用于量程范围内的硅片等各种材料的厚度精确测量。
特征
液晶显示
接触式测量
手动测量模式
数据实时显示
具有输出接口，可选配适配器实现232接口功能
技术指标
测量范围：0～12.7mm
分辨率：0.001mm
外形尺寸：300mm（L）×200（B）×340mm（H）
净重：20kg
标准
GB/T 1876-2007