HS-CA2 半自动硅片厚度TTV 测试仪

■适用于硅片等各种材料的厚度TTV精确测量
■测量范围：0～2mm
■分辨率：0.1μm
■微电脑控制、液晶显示
■菜单式界面、PVC面板操作
■接触式测量
■测头自动升降
■手动、自动双重测量模式
■数据实时显示、自动统计
■显示厚度、TTV、平均值和统计偏差
■电源：AC 220V 50Hz