菲希尔 Fischer ：XDLM-B、XDL-B、XMDVM-T7.1W、XMDVM-T7.1P XUL XULM XDLM231 XDL210 XDL230 XDV-u等等
日本精工 Sii：SFT9100、SFT9200 SFT9255、SFT9300、SFT9400；SFT110 等等
牛津 CMI：CMI980 CMI900、CMI920 等等
我们将以最合理的价格收购您手中闲置或需要更新换代的膜厚测试仪及ROHS膜厚测试仪。提供以旧换新。租凭的便民服务。合理折价并补齐差价，就可以换全新的FISCHER X-RAY膜厚仪.
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膜厚测试仪用先进的X射线技术,可高效率低成本,小型的X-射线荧光光谱仪,操作简易但功能强大,可分析元素由铝(13)到铀(92),并且具备视像显微镜及可测量小到ppm的范围,即使是较大的测量样品也可放在XY(Z)测量台上，拾载的WinFTM v6软件,使仪器可以在没有标准片的情况下进行测量。使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量，保证质量的同时降低成本。
