艾瑞斯
半导体碳化硅粉体水分测定仪
艾瑞斯ARS-SF10碳化硅粉水分测定仪仪器技术特点
1、*显示方式 ：5寸 全彩触控显示
2、称重量程：0-110 g
3、仪器精度：0.001 g
4、传感器：电磁力传感器
5、*语言模式 ：中英文切换2种语言模式
6、加热源 ：高效环形卤素灯加热
7、温度范围 ：40℃-160℃
8、温度调整：1℃
8、测试范围0.00%-100.00%
9、水分可读性 ：0.01%
10、时间设定：1~99 分钟
11、测试模式：标准/快速/柔和
12、停机方式：自动/手动/定时
13、*仪器校准模式：单点校准、线性校准
14、*测试模式：设置存储 20 组不同测试模式
15、存储记录 ：20组
16、曲线 ： 实时动态曲线
17、样品盘：100mm
18、环境温度：5℃-35℃
19、显示数据：可查看水分百分比、干重百分比、湿重百分比等数据
20、波特率：设置 1200/2400/4800/9600
21、配置RS232串口，方便连打印机、电脑和其它外围设备
22、系统设置：可对仪器（时间日期）（触控校准）（系统还原）进行设置
23、输入电压：220V 50Hz / 110V 60Hz
应用场景：除碳化硅外，可检测石墨粉、氧化铝、电池粉末等半导体相关材料，符合GB/T29249-2012标准，适用于实验室及生产线快速检测。
技术趋势与未来发展
随着半导体材料向高纯度、超细颗粒方向发展，水分测定仪正朝着多参数集成（如同时检测水分与粒度）、智能化诊断（自动识别样品类型并匹配检测方案）及微型化设计（便携式现场检测）方向演进。艾瑞斯ARS-SF10的无安装调试设计则进一步降低了操作门槛，未来或结合AI算法优化干燥曲线，提升复杂样品检测精度。
作者声明：作品含AI生成内容
